產(chǎn)品展示

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X射線衍射儀

簡要描述：DX系列X射線衍射儀設(shè)計精密，硬件、軟件功能齊全，能靈活地適用于物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的各種測試、分析和研究。根據(jù)實際任務的需要，可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件，組成具有特殊功能的衍射儀系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號：DX系列
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-10-07
訪問量：3527

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詳情介紹

DX系列X射線衍射儀設(shè)計精密，硬件、軟件功能齊全，能靈活地適用于物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的各種測試、分析和研究。根據(jù)實際任務的需要，可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件，組成具有特殊功能的衍射儀系統(tǒng)。

　　●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的*結(jié)合，滿足不同應用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要；

　　●高精度的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準確的測量結(jié)果；

　　●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復測量精度；

　　●程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，操作簡便、儀器外型更美觀。

技術(shù)參數(shù)

　　可對單晶、多晶和非晶樣品進行結(jié)構(gòu)分析，如物相定性和定量分析（RIR定量、內(nèi)部標準法、外部標準法、標準添加法），衍射譜圖指標化及點陣參數(shù)測定，晶粒尺寸及點陣畸變測定，衍射圖譜擬合修正晶體結(jié)構(gòu)（WPF），殘余應力測定，織構(gòu)分析（ODF表示立體極圖），結(jié)晶度、薄膜測定。

衍射數(shù)據(jù)處理軟件

　　對衍射數(shù)據(jù)進行常規(guī)處理：自動尋峰、手動尋峰、積分強度、Kα1、α2剝離、背景扣除、平滑、峰形放大、多重繪圖、3D繪圖、已知晶體理論結(jié)構(gòu)，模擬出XRD衍射譜圖等;

　　擬合、多重峰分離

　　通過 Pseudo-Voigt函數(shù)或是利用Pearson-VII函數(shù)對重疊峰擬合分解，確定單一衍射峰的參數(shù)，同時計算結(jié)晶度、晶粒尺寸、二類應力等。

　　定性、定量分析：

　　定性、定量分析確定樣品物相組成后，使用Rietveld方法，計算出各種物相含量的百分比（無標標定量分析）。

　　Rietveld晶體結(jié)構(gòu)精修（WPF）

　　全譜擬合定性分析、精確定量分析峰形分析研究晶體雜質(zhì)、位錯、晶界、點陣畸變等微觀結(jié)構(gòu)。

　　繪圖、打印輸出

　　數(shù)據(jù)處理軟件與Windows相連接，對將要輸出的圖譜可以使用標注、放大、縮小等功能進行版面設(shè)計，也可以使用Windows操作進行剪切、粘貼。

集成測量附件（選件）

　　廣角測角儀一般是針對粉末樣品、塊狀樣品定性和定量分析而設(shè)計的。但隨著材料研究的深入，越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射分析，集成測量附件就是為了滿足這些需要而設(shè)計的。在廣角測角儀上安裝集成測量附件可以進行織構(gòu)、應力、薄膜、定量分析等測試，每一種測試功能都有相應的計算軟件。

　　應用領(lǐng)域：

　　●碾軋板（鋁板、鐵板、銅板等）織構(gòu)測量及評價（極圖、反極圖、ODF計算）
　　●大分子化合物取向測量
　　●陶瓷樣品取向測量
　　●薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價
　　●金屬材料、陶瓷材料的殘余應力測量（切削、敲擊等加工產(chǎn)生　的應力）
　　●金屬材料上的氧化膜、氮化膜等殘余應力測量，進行耐磨性、　切削性評價
　　●多層膜材料的殘余應力測量
　　●金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析
　　●金屬、非金屬表面的電鍍材料分析
　　●有擇優(yōu)取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析

　　特點：

　　●極圖測試裝置（有反射法、透射法、γ擺動）
　　●應力測量附件（有側(cè)傾法、并傾法）
　　●薄膜測量、Phi 掃描（樣品表面旋轉(zhuǎn)）
　　●zui大可測量樣品尺寸：φ35X8mm
　　●樣品前后自動調(diào)整zui小距為：5μm
　　●附件有定位結(jié)構(gòu)與廣角測角儀安裝、柝卸十分方便
　　●DX系統(tǒng)軟件自動控制各個方向動作，可以更好的進行粉末樣品測試

　　技術(shù)參數(shù)：

　　α軸轉(zhuǎn)動范圍：－45°～90°　zui小轉(zhuǎn)動步距0.001°/步

　　β軸轉(zhuǎn)動范圍：360° 　　　　zui小轉(zhuǎn)動步距0.005°/步

　　γ軸轉(zhuǎn)動范圍：±8mm　　　　　水平45°方向擺動

　　Z軸轉(zhuǎn)動范圍：10mm 　　　　　zui小移動步距0.005mm/步

　　集成測量附件配置有高分辯率平行光光學系統(tǒng)，克服了聚集光學系統(tǒng)的缺點。平行光光學系統(tǒng)可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱、分辯率低等問題。尤其適用于材料殘余應力、有機材料、薄膜、鍍膜等樣品分析。

　　織構(gòu)使多晶材料呈現(xiàn)各向異性，利用織構(gòu)改善和提高材料的性能、充分發(fā)揮材料性能潛力是材料科學研究重要的工作之一。雖然檢測材料織構(gòu)的方法很多，但是zui廣泛應用的還是X射線衍射技術(shù)。

集成測量附件應用于退火鋁的織構(gòu)測試。分別測量出111、200、220三張極圖，使用計算軟件繪制的反極圖和立體極圖（ODF圖）

　　集成測量附件應用于鋼的殘余應力測試，Psi角膜式，-45°～90°范圍內(nèi)取點對稱測量2θ角峰位，計算正向、反向測試應力值，取平均值為應力測量結(jié)果。

纖維樣品測量裝置（選件）

　　纖維樣品測量附件安裝在廣角測角儀上。安裝纖維樣品或?qū)⒗w維樣品安裝后拉伸，用透射法或是反射法測試晶體結(jié)構(gòu)或是晶體結(jié)構(gòu)的變化，適用于木材、纖維等樣品的纖維組織測量。

樣品旋轉(zhuǎn)（薄膜測量）附件（選件）

　　使用聚焦光學系統(tǒng)一般無法測量薄膜樣品，但采用平行光光學系統(tǒng)和樣品旋轉(zhuǎn)附件、將θ軸固定、低角度入射、使用平晶單色器反射、保持樣品內(nèi)旋轉(zhuǎn)的方法，除掉來自基體的強X射線，可以高效率地探測到薄膜衍射線。

衍射儀通用附件（選件）



單色器：提高衍射峰與背景比例及對微相分析能力		DCX-6換樣器：編程控制，一次安裝多個樣品，順序進行測試，保存測量結(jié)果，提高儀器的運行效率。


陶瓷體X射線管功率：2kW 焦點：1X10mm 標準結(jié)構(gòu)、適用國內(nèi)外X射線儀		制樣器：用于粉體衍射樣品制作